远场测试技术虽然早成熟，但是由于其对大测试场地和电磁环境的特殊要求，测试非常不方便，二手网络分析仪租赁，人们一方面用紧缩场产生平面波来模拟无线长度的场地，另一方面则是用近场测试代替远场测试。
近场测量的原理是在一个面上采集待测天线近场数据，二手网络分析仪，然后通过近远场变换算法，得到待测天线远场辐射特性。根据取样面的形式，可分为平面扫描、极平面扫描、柱面扫描和球面扫描技术，平面近场测量使用为普遍。近场测量的原始数据需要包含幅度相位信息，仪器设备主要是矢量网络分析仪，或测量接收机、信号源等组成。
无论在研发还是在生产制造中，工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战。在研发过程中，更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要。生产制造过程中，需要在保持精度和产出率的同时，二手网络分析仪维修，缩短测试时间和降低测试成本。
减缓压力的方法之一是使用灵活的高度综合的测试解决方案――如Agilent N5242A PNA-X微波网络分析仪。由于PNA-X的先进体系结构，它不仅提供的性能和精度，而且还能针对超越与网络分析仪相关的传统散射参数（S参数）的各种测量进行配置。一些内置组件（如第二个信号源和宽带合路器）能对射频和微波器件，尤其是放大器、混频器和变频器的非线性特性进行非常的表征，二手网络分析仪销售，让您对这些器件的性能有更加的了解。
内部信号源也可用于测试频率转换器件如混频器或变频器，测试时除输入激励之外还需要LO信号。第二个信号源对扫描LO测试十分有用，在测试时LO信号连同射频输入信号一起被扫描，但保证RF信号和LO信号的频率差是固定的。这个方法常用于测量宽带变频器的前端元件。与使用外部信号发生器相比，使用从VNA内部信号源引出的信号作为LO信号在测试速度上有几位明显的改善（使用PNA-X的测试速度比传统方法的测试速度可5倍）。
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